Flukiger R., Silva E., Spina T., Loria R., Anzellini S., Meneghini C., Irifune T., Schiesaro I., Torchio R.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, high pressure processing, X-ray irradiation, microstructure, measurement technique
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.